名 稱：大平片光譜測試儀
型 號：
品 牌：上海欣茂
上海欣茂大平片光譜測試儀手機屏薄膜反射儀產品簡介：
大平片光譜測試儀是專為手機屏IR 油墨小孔測量及液晶顯示屏、光學等制造行業的現場檢測和質量控制設計的專用測試儀器。
上海欣茂大平片光譜測試儀手機屏薄膜反射儀特點和功能
1、采用*的光、機、電、微計算機模快化設計,具有超群的性能和性價比，使操作更為簡便。
2、配置高性能“全息光柵"的低雜散光高分辨率的單色器,具有出眾的光學精度及測量準確性。
3、儀器具有良好的穩定性、重現性。
4、*的自動調校0%T和100%T等控制功能。
5、具有定波長測試、雙波長測試（550nm、850nm）及多波長測試和光譜掃描等功能。
6、儀器設計了可變狹縫及超小的測量孔徑，滿足客戶對各種樣品的需求。
7、可靠的斷電保護措施，可記憶測得數據、掃描圖譜、并實現了儀器快速初始化。
8、具有峰谷檢測以及平均值的求取等各種高級功能，可快速直接準確的直讀數據。
9、儀器具有超大的樣品室，克服了傳統儀器無法測試尺寸較大樣品的缺陷，不需要將樣品裁剪成小的尺寸就可直接測試了。
10、LCD數字顯示器可顯示透射比等參數以及波長讀數。
11、標準RS-232通訊接口(串口)，可通過XIN MAO用戶應用軟件與電腦聯機，可實現光度測量、光譜掃描、定量測試、時間掃描及數據處理等功能，使分析工作更理想。
大平片光譜測試儀（手機屏IR 孔測量等）主要技術指標：
波長范圍： 325nm～1100nm
波長精度： ±1nm
波長重復性： ≤0.5nm
光譜帶寬： 1.6nm（最小測量直徑Φ0.5mm）
2.7nm（最小測量直徑Φ0.7mm）
5.0nm（最小測量直徑Φ1.1mm）
6.6nm（最小測量直徑Φ1.4mm）
測量范圍 0-125%T, -0.097-2.700A, 0-1999C
透射比準確度： ±0.5%（τ）
透射比重復性： ≤0.2%（τ）
基線直線性： ±0.004A
雜散光： ≤0.3%T(340、420nm)
最 大 可 測 片： 300mm x 400mm
工作電壓： AC 100V~240V 50Hz/60Hz
